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半導(dǎo)體顯微鏡到底是用來檢測(cè)什么的?

更新日期:2024-11-07  |  點(diǎn)擊率:2004
  半導(dǎo)體顯微鏡廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、生命科學(xué)、納米技術(shù)和材料科學(xué)等,它是半導(dǎo)體重要的檢測(cè)設(shè)備之一。主要是用來檢測(cè)技術(shù)含量高、比較精密的電子零部件,比如晶圓、IC芯片,PCBA電路板等,所以檢測(cè)不能馬虎,需要檢測(cè)性好并且放心的顯微鏡來進(jìn)行檢測(cè)。儀器的效率高,用起來省心更放心,使用壽命長(zhǎng),檢測(cè)效果也非常好。
 

半導(dǎo)體顯微鏡

 

  目前半導(dǎo)體已經(jīng)成為了全球顯微鏡第二大應(yīng)用需求領(lǐng)域,近年來市場(chǎng)規(guī)模持續(xù)增長(zhǎng)。未來,檢測(cè)需求、技術(shù)創(chuàng)新與政府支持將會(huì)推動(dòng)全球顯微鏡市場(chǎng)規(guī)模進(jìn)一步擴(kuò)大。半導(dǎo)體顯微鏡應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的研發(fā)、制造和質(zhì)量分析領(lǐng)域,它的主要檢測(cè)對(duì)象是晶圓,晶圓是微電子產(chǎn)業(yè)的行業(yè)術(shù)語之一。晶圓體積很小,但是要求極為嚴(yán)格,如果靠人工來檢測(cè),那么效率,準(zhǔn)確性遠(yuǎn)遠(yuǎn)達(dá)不到要求,所以才有了顯微鏡的誕生。
 
  通過半導(dǎo)體顯微鏡可以對(duì)晶圓進(jìn)行目視檢測(cè),晶圓檢測(cè)一般會(huì)觀察晶圓樣品的電路圖案和顏色,傳統(tǒng)方法要求前者采用暗場(chǎng)照明,后者采用明場(chǎng)照明,并且要在這兩種技術(shù)之間反復(fù)切換,因而檢測(cè)過程就變得非常耗時(shí)。顯微鏡改善了這一現(xiàn)象,使用先進(jìn)的圖像處理技術(shù)高動(dòng)態(tài)范圍(HDR)調(diào)整圖像中亮度的差異,以減少眩光。在混合光照下,可以同時(shí)觀察電路圖案和晶圓的顏色信息。混合圖像的清晰度和清晰度有助于提高工作效率和報(bào)告的創(chuàng)建。HDR提高了數(shù)字圖像的視覺質(zhì)量,從而有助于生成專業(yè)外觀的報(bào)告。
 
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